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合成回路试验电流引入可靠性的研究
引用本文:秦实宏,何俊佳,程礼椿,邹积岩.合成回路试验电流引入可靠性的研究[J].湖北工业大学学报,2005,20(4):23-25.
作者姓名:秦实宏  何俊佳  程礼椿  邹积岩
作者单位:武汉工业学院电气工程与信息工程系,湖北,武汉,430074;华中科技大学电气学院,湖北,武汉,430074;大连理工大学电磁系,辽宁,大连,116000
基金项目:湖北省自然科学基金(2003ABA052),湖北省教育厅基金(2003A005).
摘    要:阐述了影响合成试验成功的关键技术问题,采用光隔、单片机等技术实现了合成回路各开关时序以及电流引入时间的准确控制,提高了合成试验可靠性和成功率,并开发了单片机数据采集和合成回路试验控制系统.

关 键 词:合成回路  触发电路  真空开关  AT89C52
文章编号:1003-4684(2005)08-0023-03
收稿时间:2005-05-27
修稿时间:2005年5月27日

Study of the Reliability of Current Injection for Synthetic Circuit Test
QIN Shi-hong,HE jun-jia,CHENG Li-chun,ZOU Ji-yan.Study of the Reliability of Current Injection for Synthetic Circuit Test[J].Journal of Hubei University of Technology,2005,20(4):23-25.
Authors:QIN Shi-hong  HE jun-jia  CHENG Li-chun  ZOU Ji-yan
Abstract:Based on the synthetic circuit test for vacuum switch, the factors that influence the success of th synthetic test are analyzed. The microcomputer system of time controlling for trigging a gap switch and experimental date processing is developed. The current injection time can be controlled more precisely. Triggingtime for a gap switch is more reliable and the synthetic test can be made more efficiently. The computer control system is very helpful for studying and developing applications of vacuum switch.
Keywords:synthetic circuit  triggering circuit  vacuum switch  AT89C52
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