|
|||||
|
|
| 高纯硅微粉中痕量铀的测定 | |
| 引用本文： | 楼芳彪,周建浩.高纯硅微粉中痕量铀的测定[J].浙江化工,1999,30(3):42-43. |
| 作者姓名： | 楼芳彪 周建浩 |
| 作者单位： | 浙江省化工研究院!浙江杭州310023 |
| 摘 要： | 介绍了用TBP萃淋树脂分离富集———激光荧光法测定硅微粉中痕量铀的分析方法。该方法具有灵敏度高 ,重现性好 ,操作方便的特点。 |
| 关 键 词： | 硅微粉 铀 激光荧光法 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号-23 |
