|
|||||
|
|
| GaN HFET偏置转换中的亚稳态能带 | |
| 作者单位： | ;1.南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室 |
| 摘 要： | 从场效应管瞬态电流谱中慢峰展示的异质结慢充电过程出发,提出了研究GaN HFET偏置转换中出现的亚稳态新概念。利用亚稳态随时间的缓变特征,建立了自洽求解二维泊松方程和薛定谔方程的能带计算方案。选用能带峰和填充能级来描绘亚稳态,编制成计算不同应力偏置和测试偏置下亚稳态能带的计算软件。运用新编软件计算了不同能带峰和填充能级下的亚稳态能带。详细描述了偏置转换中产生的能带谷充电过程及外沟道堵塞,由此建立起应力偏置与测试偏置下动态电流间的关联。从场效应管射频工作中栅、漏电压的变化条件出发提出新的电流崩塌动态模型。运用应力偏置和测试偏置下的定态能带和亚稳态能带解释了瞬态电流谱随应力偏置和测试偏置的变化行为。最后讨论亚稳态能带在GaN HFET研究中的重要意义。 |
| 关 键 词： | 亚稳态能带 电流崩塌 能带峰 填充能级 能带谷充电 应力偏置对动态电流的影响 电流崩塌模型 陷阱 |
Metastable Energy Band in GaN HFET Bias Conversion |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | |
