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| 平面近场诊断在相控阵天线通道幅相性能测试中的应用 | |
| 引用本文： | 杨顺平,朱晓林.平面近场诊断在相控阵天线通道幅相性能测试中的应用[J].电讯技术,2019,59(12):1477-1480. |
| 作者姓名： | 杨顺平 朱晓林 |
| 作者单位： | 中国西南电子技术研究所,成都,610036;航天系统部 装备部军代局,北京,100081 |
| 摘 要： | 传统的平面近场诊断在通道测试时由于互耦，得到的检测值为所有通道叠加的结果，不利于单个通道信息的提取。为了去除互耦，提出了矢量旋转和近场口面诊断相结合的方法，理论上能实现对相控天线单个单元的幅度相位的检测。对该方法进行误差分析，得到了各个误差源对该方法的影响大小。通过实验验证，证明了该方法有效地减小了互耦影响，能提取单个通道的近场、远场信息，并能为相控阵天线通道校准和故障检测提供有效的手段。 |
| 关 键 词： | 相控阵天线 幅相性能测试 平面近场诊断 矢量旋转 |
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