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产品的响应与消除次冲击的必要性
引用本文:李鸿儒.产品的响应与消除次冲击的必要性[J].电子工业专用设备,2001,30(2):27-33.
作者姓名:李鸿儒
作者单位:清华大学!北京100084
摘    要:阐述了在跌落冲击试验时主冲击与次冲击的特点 ;计算了产品模型对一个单次冲击循环的响应 ,分析了产品损坏的原因。当产品进行精密冲击试验时 ,消除次冲击是很有必要的。

关 键 词:主冲击  次冲击  系统响应  产品损坏
文章编号:1004-4507(2001)02-0027-07
修稿时间:2001年5月15日

The Necessary of Elimincting Secondary Shocks Based on the Damage of Product System
LI Hong-ru.The Necessary of Elimincting Secondary Shocks Based on the Damage of Product System[J].Equipment for Electronic Products Marufacturing,2001,30(2):27-33.
Authors:LI Hong-ru
Abstract:This paper described the characteristics of major shock and secondary shocks in drop-test.It calculated the product system response on a shock course and analysed the reason of product damaging.When product conducts accurate shock testing,it is very necessary to eliminate the secondary shocks.
Keywords:Major Shock  Secondary Shocks  System Response  product Damage
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