首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

DCTT统计最优化模型及其性质
引用本文:郝跃.DCTT统计最优化模型及其性质[J].电子与信息学报,1993,15(2):133-139.
作者姓名:郝跃
作者单位:西安电子科技大学微电子所 西安
摘    要:本文提出了集成电路最优化中综合考虑成品率极大、最佳容差设计、调整设计和生产效益极大化设计的统计最优化模型(Design Centering,Tolerance and Tuning.简称DCTT模型)。讨论了该模型与广义统计最优化模型的等价性以及其他主要性质。在确定性最优化框架下,该模型为统计最优化和集成电路可制造性设计的进一步发展开辟了新途径。

关 键 词:集成电路    统计最优化    不可微规划
收稿时间:1991-9-2
修稿时间:1992-8-10

DCTT STATISTICAL OPTIMIZATION METHOD AND ITS FEATURES
Hao Yue.DCTT STATISTICAL OPTIMIZATION METHOD AND ITS FEATURES[J].Journal of Electronics & Information Technology,1993,15(2):133-139.
Authors:Hao Yue
Affiliation:Xidian University Xi'an 710071
Abstract:A statistical optimization method of integrated circuit design is proposed. This model summerizes optimal centering design of yield maximization, optimal tolerance, tuning design and maximum production profit design. The equivalence between this method and the general statistical optimization method is discussed, and the main features of the model are given. Based on the frame of deterministic optimization method, the general statistical optimization method can be improved further by the model proposed in this paper.
Keywords:Integrated Circuits  Statistical optimization  Nondifferentiable programming  
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
点击此处可从《电子与信息学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《电子与信息学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号