|
|||||
|
|
| 光盘读写斑点二维强度分布测量 | |
| 引用本文： | 杨向阳,周望龙,邬敏贤,金国藩.光盘读写斑点二维强度分布测量[J].应用激光,1986(4). |
| 作者姓名： | 杨向阳 周望龙 邬敏贤 金国藩 |
| 作者单位： | 清华大学精密仪器系，清华大学精密仪器系，清华大学精密仪器系，清华大学精密仪器系 |
| 摘 要： | 提出了用雷顿分析法综合光斑二维强度分布的方法。对显微物镜聚焦光斑进行了实测,结果与理论相符。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号-23 |
