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碳化硼五次孪晶纳米线的结构弛豫现象研究
引用本文:付新,袁俊.碳化硼五次孪晶纳米线的结构弛豫现象研究[J].电子显微学报,2011(Z1).
作者姓名:付新  袁俊
作者单位:北京有色金属研究总院;英国约克大学物理系;
基金项目:国家973计划项目(No.2002CB613501)
摘    要:通过透射电子显微学方法研究纳米材料内部结构有助于理解界面与缺陷对纳米材料性能的影响。在碳化硼五次孪晶纳米线体系中,为了缓解5°角度过剩引起的五次孪晶轴心区域的弹性应变能,在纳米线内部会产生一些结构缺陷。本文通过系列电子衍射分析结合暗场成像技术揭示了碳化硼五次循环孪晶纳米线中的一种结构弛豫模式。孪晶轴向纳米线边缘偏移从而导致其中2片单晶结构单元的缺失,形成仅具有3个单晶结构单元的非完整循环孪晶结构。统计分析发现此类结构弛豫现象少量存在于1100℃固相烧结合成的碳化硼五次孪晶纳米线中,从能量角度定性分析表明这可能与该结构弛豫发生过程中会产生具有较高能量的界面及表面有关。

关 键 词:五次孪晶结构  碳化硼纳米线  结构弛豫  

Investigation on the structural relaxation of boron carbide five-fold twinned nanowires
FU Xin,YUAN Jun.Investigation on the structural relaxation of boron carbide five-fold twinned nanowires[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2011(Z1).
Authors:FU Xin  YUAN Jun
Affiliation:FU Xin1,YUAN Jun2(1.General Research Institute for Nonferrous Metals,Beijing 100088,China,2.Department of Physics,University of York,York YO10 5DD,United Kingdom)
Abstract:
Keywords:five-fold twinned nanostructures  boron carbide nanowires  structural relaxation  
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