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基于全光谱拟合法的VO_2薄膜光学常数计算
作者单位:;1.安徽合肥电子工程学院;2.红外与低温等离子体安徽省重点实验室;3.脉冲功率激光技术国家重点实验室
摘    要:为实现对VO_2薄膜光学常数的测量,本文在全光谱拟合法的基础上,首先利用导纳矩阵法推导出透射率T与薄膜厚度d、折射率n以及消光系数k的函数关系,然后利用单纯形法得到其优化函数。最后采用Matlab编程方法对低温态、高温态VO_2薄膜的红外透射率进行了全光谱拟合,得到折射率和消光系数等VO_2薄膜光学常数的拟合曲线。结果表明:拟合曲线与已有研究结果及实测曲线基本吻合。采用全光谱拟合方法得到的光学常数能较准确的对VO_2薄膜进行描述,为最佳膜厚设计提供了依据。此外,为更简便地描述VO_2薄膜的光学常数,本文还引入了Cauchy色散模型方程,对全光谱拟合方法得到的中远红外波段(2.5~15mm)的光学常数结果进行了拟合。

关 键 词:薄膜光学  VO2薄膜  全光谱拟合  单纯形法  Cauchy色散模型

Optical Constants of VO_2 Thin Films Based on Whole Optical Spectrum Fitting
Abstract:
Keywords:
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