首页
|
官方网站
微博
|
高级检索
全部学科
医药、卫生
生物科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
农业科学
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
历史、地理
语言、文字
文学
艺术
文化、科学、教育、体育
马列毛邓
全部专业
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目中文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
(110)晶向衬底提高pMOS性能
摘 要:
Intel和另一家顶级器件制造商正在研究使用(110)晶向的硅片衬底来提高pMOS的迁移率。在2008年的国际电子器件会议(IEDM)上,Intel的32nm器件经理PaulPackan表示:Intel在(110)晶向衬底上制造的45nm晶体管,得到了与预想一致的结果,pMOS驱动电流达到了1.2mA/pm,同时,nMOS驱动电流并未退化很多。
关 键 词:
pMOS
衬底
晶向
性能
电子器件
驱动电流
nMOS
本文献已被
维普
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号-23
京公网安备 11010802026262号