| 980nm半导体激光器可靠性的研究现状分析 |
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| 引用本文： | 刘斌,张敬明,刘媛媛,王晓薇,方高瞻,马骁宇,肖建伟.980nm半导体激光器可靠性的研究现状分析[J].四川激光,2002,23(5):1-2. |
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| 作者姓名： | 刘斌 张敬明 刘媛媛 王晓薇 方高瞻 马骁宇 肖建伟 |
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| 作者单位： | 中国科学院半导体研究所，中国科学院半导体研究所，中国科学院半导体研究所，中国科学院半导体研究所，中国科学院半导体研究所，中国科学院半导体研究所，中国科学院半导体研究所 国家光电子器件工程研究中心，北京100083，国家光电子器件工程研究中心，北京100083，国家光电子器件工程研究中心，北京100083，国家光电子器件工程研究中心，北京100083，国家光电子器件工程研究中心，北京100083，国家光电子器件工程研究中心，北京100083，国家光电子器件工程研究中心，北京100083 |
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| 摘 要： | 本文介绍了提高980nm半导体激光器可靠性的几种方案，并做了综合评述。进一步介绍了离子辅助镀膜技术在提高980nm激光器可靠性方面的应用。
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| 关 键 词： | 980nm半导体激光器 可靠性 现状 离子辅助镀膜 COD 掺铒光纤放大器 |
The investigation of reliability of 980 nm semiconductor lasers |
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| Liu Bin,Zhang Jing ming,Liu Yuan yuan Wang Xiao wei Fang Gao zhan,Ma Xiaoyu,Xiao Jianwei.The investigation of reliability of 980 nm semiconductor lasers[J].Laser Journal,2002,23(5):1-2. |
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| Authors: | Liu Bin Zhang Jing ming Liu Yuan yuan Wang Xiao wei Fang Gao zhan Ma Xiaoyu Xiao Jianwei |
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| Abstract: | The paper introduces the methods to improve the reliability of 980 urn semiconductor lasers, and compares the differences of them. Then it introduces the technology of Ion Assisted Diposition(IAD)for improving the reliability of 980 nm semiconductor lasers. |
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| Keywords: | semi conductor lasers re 1 iab ility ion assisted deposition COD |
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