| 超高反射率测量系统的精密调试 |
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| 引用本文： | 易亨瑜,胡晓阳,陈门雪.超高反射率测量系统的精密调试[J].红外与激光工程,2007,36(Z1). |
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| 作者姓名： | 易亨瑜 胡晓阳 陈门雪 |
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| 作者单位： | 中国工程物理研究院,应用电子学研究所,四川,绵阳,621900 |
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| 基金项目： | 中国工程物理研究院基金 |
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| 摘 要： | 在高反射率的精确测量中,光腔衰荡系统的调节直接影响反射率测量结果的精度.介绍了大口径超高反射率测量系统的结构及其工作原理,讨论了影响系统测量精度的因素,理论上估算的测量精度为9.1×10-6.在直腔下对该系统的性能进行了实验调试,根据衰荡波形的峰值包络线的变化趋势来调节衰荡腔的腔长;根据表荡波形中相邻奇、偶次脉冲幅值的大小对比调节衰荡光腔的腔镜角度.实验测试结果表明,系统的测量不确定度优于7×10-6,最大测量误差为1.3×10-5,与理论上预计误差在数量级上一致.
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| 关 键 词： | 光学测量 反射率 光腔衰荡 测量精度 |
Critically adjustment of high reflectivity measurement system |
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| YI Heng-yu,HU Xiao-yang,CHEN Men-xue.Critically adjustment of high reflectivity measurement system[J].Infrared and Laser Engineering,2007,36(Z1). |
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| Authors: | YI Heng-yu HU Xiao-yang CHEN Men-xue |
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