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相移掩模对曝光图形空间像光强分布影响的计算机模拟
引用本文:沈锋 冯伯儒. 相移掩模对曝光图形空间像光强分布影响的计算机模拟[J]. 微细加工技术, 1995, 0(1): 7-14
作者姓名:沈锋 冯伯儒
作者单位:中科院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室
摘    要:本文讨论了提高曝光分辨率的一种主要方法:相移掩模方法。分析了相移掩模提高分辨率的原理,提出了相移掩模成像的模拟思想,推导了数学公式,并实现了计算机模拟,给出了一些初步结果。

关 键 词:相移掩模 光刻 计算机模拟 VLSI 集成电路

COMPUTER SIMULATION OF EFFECTS OF PHASE-SHIFT MASK ON AERIAL IMAGE INTENSITY PROFILE OF PHOTOLITHOGRAPHIC PATTERN
Sken Feng, Feng Boru, Sun Guoliang. COMPUTER SIMULATION OF EFFECTS OF PHASE-SHIFT MASK ON AERIAL IMAGE INTENSITY PROFILE OF PHOTOLITHOGRAPHIC PATTERN[J]. Microfabrication Technology, 1995, 0(1): 7-14
Authors:Sken Feng   Feng Boru   Sun Guoliang
Abstract:In the paper described are principles of improving resolution by use of phaSe-shift mask(PSM),PSMsimulation ideas,matl1ematics and Some initial iesults given by computer simulation.
Keywords:phase-shift mask  computer simulation  photolithographic resolution  
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