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| 半导体整流器件质量概念和可靠性论证的新发展 | |
| 引用本文： | 孙家清.半导体整流器件质量概念和可靠性论证的新发展[J].半导体技术,1989(1):49-52. |
| 作者姓名： | 孙家清 |
| 作者单位： | 天津市第三半导体器件厂 |
| 摘 要： | 半导体整流器件的静态特性是建立在经典的pn结导电理论的基础上的.也就是说通过整流器件直流伏安特性可以定量分析其静态特性. |
| 关 键 词： | 半导体器件 整流器 质量 可靠性 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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