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| IC测试原理-存储器和逻辑芯片的测试 | |
| 引用本文： | 许伟达.IC测试原理-存储器和逻辑芯片的测试[J].半导体技术,2006,31(5):350-352,349. |
| 作者姓名： | 许伟达 |
| 作者单位： | 科利登系统有限公司 |
| 摘 要： | 1存储器芯片测试 存储器芯片是在特定条件下用来存储数字信息的芯片.存储的信息可以是操作代码,数据文件或者是二者的结合.根据特性的不同,存储器可以分为以下几类,如表1所示. |
| 关 键 词： | 芯片测试 原理 存储器芯片 特性 结合 数据文件 代码 操作 数字信息 特定条件 |
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