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| 可擦除相变光学头系统公差与光斑测试 | |
| 引用本文： | 陈海清,阮玉,常洋燕.可擦除相变光学头系统公差与光斑测试[J].中国激光,1994,21(10):827-830. |
| 作者姓名： | 陈海清 阮玉 常洋燕 |
| 作者单位： | 陈海清:华中理工大学光电子工程系, 武汉 430074 阮玉:华中理工大学光电子工程系, 武汉 430074 常洋燕:华中理工大学光电子工程系, 武汉 430074 |
| 摘 要： | 根据波像差理论,分析了光学头中各误差源及其对波像差造成的影响,制定了相应公差容限,分析了微光斑的显微测试原理,建立了一种显微放大系统,能有效地评价光点质量。 |
| 关 键 词： | 误差源，公差容限，显微测试 |
| 收稿时间： | 1993/12/24 |
System Tolerance of the Optical Head Used in Phase-change Optical Disk and Spot Size Measurement |
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| Abstract: | Based on the wave theory, every error source and its influence on the wave abrration are analyzed, and the corresponding tolerance limit is formulated. The micromeasure principle for submicron size spot is analyzed. A microscope system is set up, and the quality of a light spot is evaluated effectively by the system. |
| Keywords: | error source tolerance limit micromeasure |
