| 6σ设计水平的评价 |
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| 引用本文： | 贾新章,王少熙,蒲建斌.6σ设计水平的评价[J].电子产品可靠性与环境试验,2004(2):22-25. |
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| 作者姓名： | 贾新章 王少熙 蒲建斌 |
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| 作者单位： | 西安电子科技大学微电子所,陕西,西安,710071 |
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| 基金项目： | 电子元器件可靠性及其应用技术国家重点实验室基金(514330501)资助。 |
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| 摘 要： | 在介绍6σ设计概念和目标的基础上，给出设计水平与百万机会缺陷数(DPMO)关系的计算表达式和关系曲线，并开发了计算机模块，能自动计算与不同设计水平对应的DPMO值，也可以根据实际的DPMO值，自动评价达到的设计水平。
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| 关 键 词： | 6σ设计 百万机会缺陷数 工艺成品率 正态分布 |
| 文章编号： | 1672-5468(2004)02-04 |
| 修稿时间： | 2003年9月26日 |
The Evaluation of the 6 σ Design Level |
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| JIA Xin-zhang,WANG Sao-xi,PU Jian-bin.The Evaluation of the 6 σ Design Level[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2004(2):22-25. |
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| Authors: | JIA Xin-zhang WANG Sao-xi PU Jian-bin |
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