|
|||||
|
|
| 发射光谱法测定高纯Al_2O_3中微量杂质元素 | |
| 引用本文： | 于洪勤,林兰芬.发射光谱法测定高纯Al_2O_3中微量杂质元素[J].真空电子技术,1987(4). |
| 作者姓名： | 于洪勤 林兰芬 |
| 作者单位： | 电子工业部十二所，电子工业部十二所 |
| 摘 要： | 本方法适用于高纯Al_2O_3中Fe、Mg、Ca、Cu、Ni、Ba、Na、Mn、Pb、Ga等十六个微量杂质元素的测定。分析方法的相对标准偏差为15％左右。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号-23 |
