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| 一种新型高低温老化房 | |
| 引用本文： | 曹捷,张国琦.一种新型高低温老化房[J].电子工艺技术,2002,23(6):253-255. |
| 作者姓名： | 曹捷 张国琦 |
| 作者单位： | 中国科学院西安光机所,陕西,西安,710068 |
| 摘 要： | 介绍了一种适合电子产品进行高低温老化实验的新型装置，列出了该装置的原理及主要技术参数，并对实验测试结果进行了讨论。 |
| 关 键 词： | 高温 低温 老化房 模糊智能 闭环控制 老化实验 电子整机产品 |
| 文章编号： | 1001-3474(2002)06-0253-03 |
| 修稿时间： | 2001年7月21日 |
A New High-Low Temperature Ageing House |
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| Abstract: | |
| Keywords: | Ageing PID Loop control |
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