首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

自动椭偏仪及其在LCD膜系测量中的应用
引用本文:吕正德,朱鹤年,张百哲.自动椭偏仪及其在LCD膜系测量中的应用[J].激光与光电子学进展,1999(Z1).
作者姓名:吕正德  朱鹤年  张百哲
作者单位:清华大学现代应用物理系!北京,100084,清华大学现代应用物理系!北京,100084,北京清华液晶技术工程研究中心!北京,100084
摘    要:简要介绍了椭圆偏振测量术的基本原理,并对自动椭偏仪进行了介绍。由于自动椭偏仪具有无损探测、测量准确度高和测量迅速等特点,它非常适合用于LCD薄膜系统光学性质的在线测量。

关 键 词:椭圆偏振测量术  自动椭偏仪  LCD  薄膜
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号