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在普通照明条件下寻找元件瑕疵
引用本文:蔡惟泉.在普通照明条件下寻找元件瑕疵[J].激光与光电子学进展,1987,24(2):33.
作者姓名:蔡惟泉
作者单位:蔡惟泉:
摘    要:作为各类无损检验的一个重要工具,全息干涉法的确贏得了自己的地位。但它确实也受到几种重大的实际限制,其中包括要求暗的环境及波前重建所需的对装置的极细微调整。

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