集成电路可制造性设计理论与统计最优化方法统一模型的研究

文中系统地介绍了集成电路可制造性设计的基本概念，讨论了ＩＣ发展趋势和ＶＬＳＩ的极限，以及功能设计向优化设计过渡的必然性。综合考虑了电路制造的参数成品率极大，最佳容差设计，调整设计和制造费用极小化问题，提出了建立在不可微规划框架上的统计最优化方法的统一模型。