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中子辐照诱导CCD电荷转移效率降低的数值模拟与分析
引用本文:王祖军,唐本奇,张勇,肖志刚,黄绍艳.中子辐照诱导CCD电荷转移效率降低的数值模拟与分析[J].半导体光电,2005,26(Z1):49-52.
作者姓名:王祖军  唐本奇  张勇  肖志刚  黄绍艳
作者单位:西北核技术研究所,陕西,西安,710024
摘    要:运用半导体器件二维数值模拟软件MEDICI,分别对能量为1 MeV和14 MeV的中子,在注量范围为3×1013~5×1014cm-2辐照下,对CCD器件电荷转移效率的变化规律进行数值模拟研究.建立了MEDICI软件模拟CCD电荷转移效率变化的器件物理模型、中子辐照模型,并对模拟结果进行了机理分析,得出中子辐照诱导CCD器件电荷转移效率降低的初步规律.

关 键 词:CCD  中子辐照  电荷转移效率  位移损伤效应  MEDICI数值模拟  中子辐照  辐照诱导  电荷转移  效率降低  二维数值  模拟与分析  Neutron  Irradiation  Induced  Reduction  变化规律  机理分析  模拟结果  器件物理模型  效率变化  软件模拟  模拟研究  转移效率  范围  注量  能量
文章编号:1001-5868(2005)S-0049-04
修稿时间:2004年11月22日

Simulation on CTE Reduction of CCD Induced by Neutron Irradiation
WANG Zu-jun,TANG Ben-qi,ZHANG Yong,XIAO Zhi-gang,HUANG Shao-yan.Simulation on CTE Reduction of CCD Induced by Neutron Irradiation[J].Semiconductor Optoelectronics,2005,26(Z1):49-52.
Authors:WANG Zu-jun  TANG Ben-qi  ZHANG Yong  XIAO Zhi-gang  HUANG Shao-yan
Abstract:
Keywords:
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