| 基于形态学和小波变换的Otsu提取缺陷 |
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| 引用本文： | 张桂梅,陈少平,储珺.基于形态学和小波变换的Otsu提取缺陷[J].半导体光电,2011,32(4):593-597. |
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| 作者姓名： | 张桂梅 陈少平 储珺 |
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| 作者单位： | 南昌航空大学无损检测教育部重点实验室,南昌,330063;南昌航空大学无损检测教育部重点实验室,南昌,330063;南昌航空大学无损检测教育部重点实验室,南昌,330063 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目(61063030);国家“973”计划项目(2009CB320902);江西省科技支撑计划项目(2009BGA00800) |
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| 摘 要： | 为了解决经典Otsu法对复杂图像分割的不足,提出了一种新的分割算法来提取零件的表面缺陷,将形态学和小波变换理论应用到Otsu算法中。该算法采用两次分割,分别为将零件从背景中分割出来以及将缺陷从零件中分割出来。算法首先采用形态学中的顶帽变换和底帽变换相结合将零件从图像背景中分离出来,得到目标图像;然后选择单层小波系数分解目标图像,再将分解后的图像进行低频重构,去除冗余信息和噪声;最后分别应用一维和二维Otsu算法将缺陷从低频重构后的图像中分割出来。实验证明,所提出的算法较经典的一维和二维Otsu算法,具有分割精度高、抗噪性能强的优点,并且改进后的一维Otsu算法要优于改进后的二维Otsu算法。
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| 关 键 词： | 形态学 小波变换 Otsu算法 缺陷提取 |
Defection Extraction Using Otsu Algorithm Based on Morphology and Wavelet Transform |
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| ZHANG Guimei,CHEN Shaoping,CHU.Defection Extraction Using Otsu Algorithm Based on Morphology and Wavelet Transform[J].Semiconductor Optoelectronics,2011,32(4):593-597. |
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| Authors: | ZHANG Guimei CHEN Shaoping CHU |
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| Affiliation: | Jun (Key Laboratory of Nondestructive of Testing Ministry of Education,Nanchang Hangkong University,Nanchang 330063,CHN) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | morphology wavelet transform Otsu algorithm defect extraction |
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