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| 基于边界扫描技术的互连测试 | |
| 引用本文： | 张学斌.基于边界扫描技术的互连测试[J].电子元器件应用,2005,7(3):45-46. |
| 作者姓名： | 张学斌 |
| 作者单位： | 同济大学中德学院，上海200092 |
| 摘 要： | 边界扫描技术是当前测试技术研究中的热点，主要介绍基于边界扫描的互连测试技术的原理、算法和应用。 |
| 关 键 词： | 边界扫描技术 可测试性设计 互连测试 集成电路 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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