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串联MEMS开关的瞬态电磁场分析
引用本文:顾洪明,吕苗,单福琪,高葆新,梁春广.串联MEMS开关的瞬态电磁场分析[J].微纳电子技术,2003,40(7):84-86.
作者姓名:顾洪明  吕苗  单福琪  高葆新  梁春广
作者单位:1. 清华大学电子工程系,北京,100084
2. 河北半导体研究所,河北,石家庄,050002
摘    要:提出了一种串联MEMS开关的电磁耦合模型,并且应用该模型,对采用表面硅工艺和体硅工艺制作的MEMS开关,采用全波分析方法,进行了瞬态电磁场分析。由于开关尺寸为微米量级,而驱动电压高达40~60V,这样的瞬态高压有可能对开关上的信号产生影响。理论仿真结果显示,开关驱动路对信号路有很强的耦合场存在。实验结果同样显示,耦舍到信号路的信号可以输入信号产生最大值为60%的失真。

关 键 词:MEMS开关  瞬态电磁场  耦合模型  全波分析法
文章编号:1671-4776(2003)07/08-0084-03
修稿时间:2003年5月15日

Transient field analysis for series MEMS switch
Abstract:
Keywords:
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