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高响应度InGaAs PIN光电探测器的研制
引用本文:王承栋,杨集,冯士维,张跃宗,庄四祥,张弓长.高响应度InGaAs PIN光电探测器的研制[J].微纳电子技术,2007,44(7):196-197,209.
作者姓名:王承栋  杨集  冯士维  张跃宗  庄四祥  张弓长
作者单位:1. 北京工业大学,电子信息与控制工程学院,北京,100022
2. 中国科学院,电子学研究所,传感技术国家重点实验室,北京,100080
基金项目:北京市自然科学基金;教育部出国留学人员启动基金
摘    要:分析了影响探测器响应度的各因素,在此基础上设计了InGaAs/InP PIN探测器的外延材料结构并优化了增透膜厚度和p-InP区欧姆接触电极图形的设计,以达到提高响应度的目的。采用MOCVD技术和闭管扩散等工艺制备了器件并测量了其响应度。结果显示,器件的光谱响应范围为1000-1600nm,在1500nm激光的辐照下,5V反向偏压时器件的响应度可达0.95A/W以上。

关 键 词:探测器  光响应度  铟镓砷/磷化铟
文章编号:1671-4776(2007)07/08-0196-02
修稿时间:2007-04-02

Development of High Responsivity InGaAs PIN Photodetectors
WANG Cheng-dong,YANG Ji,FENG Shi-wei,ZHANG Yue-zong,ZHUANG Si-xiang,ZHANG Gong-chang.Development of High Responsivity InGaAs PIN Photodetectors[J].Micronanoelectronic Technology,2007,44(7):196-197,209.
Authors:WANG Cheng-dong  YANG Ji  FENG Shi-wei  ZHANG Yue-zong  ZHUANG Si-xiang  ZHANG Gong-chang
Abstract:In order to improve the detectors responsivity, the thickness of antireflective film and the shape of p-InP ohmic contact electrode were optimized on the basis of analyzing the factors effecting on responsivity. The device was implemented by MOCVD and closed-capsule diffusion method and the spectral response was measured. The detectors show perfect responsivity at wavelengths from 1000 nm to 1600 nm. At the wavelength of 1500 nm and at 5 V reverse bias, the responsivity is over 0.95A/W.
Keywords:detector  photo responsivity  InGaAs/InP
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