| 单片开关电源TPS54350的失效分析 |
| |
| 引用本文： | 程奇,刘岚.单片开关电源TPS54350的失效分析[J].电子设计工程,2010,18(3). |
| |
| 作者姓名： | 程奇 刘岚 |
| |
| 作者单位： | 武汉理工大学,信息工程学院,湖北,武汉,430070 |
| |
| 摘 要： | 分析和解决了开关电源TPS54350在小负载应用电路下的失效问题.通过对失效器件进行外观镜检、I-V曲线测试、X线检查,对典型应用电路的分析和异常测试波形分析找到了器件失效的根本原因.TPS54350典型应用电路在下电时存在反灌电流,且外接欠压保护电阻,由此引起的输入电压波动对输出使能ENA端间接干扰,从而使器件误启动,造成输出端电流反灌入器件,导致器件内部电路出现闩锁失效.采用TPS54550替换TPS54350(ENA端抗干扰能力更强),并去除UVLO端欠压保护电阻,解决失效问题,稳定地实现12 V转5 V,电流约为100 mA的小负载应用.
|
| 关 键 词： | 开关电源器件 欠压保护 闩锁 反灌电流 |
Failure analysis of single-chip integrated switching-power TPS54350 |
| |
| CHENG Qi,LIU Lan.Failure analysis of single-chip integrated switching-power TPS54350[J].Electronic Design Engineering,2010,18(3). |
| |
| Authors: | CHENG Qi LIU Lan |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
