| X射线背光成像诊断的球面晶体分析器研究 |
| |
| 引用本文： | 刘利锋,肖沙里,钱家渝.X射线背光成像诊断的球面晶体分析器研究[J].光电子．激光,2015,26(3):439-443. |
| |
| 作者姓名： | 刘利锋 肖沙里 钱家渝 |
| |
| 作者单位： | 山西大同大学 物理与电子科学学院,山西 大同 037009;重庆大学 光电技术及系 统教育部重点实验室,重庆 400030;重庆大学 光电技术及系 统教育部重点实验室,重庆 400030 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金(10976033)和山西大同大学博士科研启动经费资助项目 (1.山西大同大学 物理与电子科学学院,山西 大同 037009； 2.重庆大学 光电技术及系 统教育部重点实验室,重庆 400030) |
| |
| 摘 要： | 在激光约束聚变和箍缩聚爆实验中,为了分析内爆 靶丸推进层的运动过程和评估激光辐射驱动的对称性和均匀性, 需要得到靶丸内爆单色X射线二维空间分辨信息。为了诊断内爆高温等离子体X射线二维空间 信息,利用晶体布喇格衍射 原理研制了新型的成像系统。系统的核心元件为球面晶体分析器,球面晶体为云母球面晶体 ,弯曲半径为143.3mm。在中 国工程物理研究院进行了单色X射线背光成像实验,磷屏成像板获得了清晰的Cr靶单色X射线 二维网格图像。通过对实验 所得背光图像分析,云母球面晶体成像系统得到的空间分辨率为86 μm。实验结果表明,云母球面晶体可以应用于等离子体X射线的背光成像诊断研究。
|
| 关 键 词： | 球面晶体 布喇格衍射 单色背光成像 空间分辨率 |
| 收稿时间： | 2014/11/20 0:00:00 |
A spherically bent crystal analyzer for X-ray backlighting imaging diagnosis |
| |
| LIU Li-feng,XIAO Sha-li and QIAN Jia-yu.A spherically bent crystal analyzer for X-ray backlighting imaging diagnosis[J].Journal of Optoelectronics·laser,2015,26(3):439-443. |
| |
| Authors: | LIU Li-feng XIAO Sha-li and QIAN Jia-yu |
| |
| Affiliation: | School of Physics and Electronics Science,Shanxi Datong University, Datong 037009,China;Key Laboratory of Optoelectronic Technology and System,Mi nistry of Education of China,Chongqing University,Chongqing 400030,China;Key Laboratory of Optoelectronic Technology and System,Mi nistry of Education of China,Chongqing University,Chongqing 400030,China |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | spherically bent crystal Bragg diffraction monochromatic X-ray backlighting i maging spatial resolution |
|
| 点击此处可从《光电子．激光》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《光电子．激光》下载全文 |
|
