首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

全息CT测量轴对称透明体折射率变化的模拟
引用本文:李俊昌,熊秉衡,等.全息CT测量轴对称透明体折射率变化的模拟[J].光电子.激光,2002,13(10):1026-1030.
作者姓名:李俊昌  熊秉衡
作者单位:昆明理工大学理学院激光所,云南,昆明,650093
摘    要:简要讨论了全息CT测量原理,理论上证明根据实时全息干涉图的强度分布测量待测物体折射率三维(3-D)变化的可行性;利用计算机对轴对称介质折射率变化的全息CT干涉条纹进行模拟研究,并给出模拟研究的应用实例。

关 键 词:全息CT  测量  轴对称透明体  折射率  光学全息测量  干涉计量
文章编号:1005-0086(2002)10-1026-05
修稿时间:2002年5月20日

Simulated Study on the Measurement of the Variation of the Deflection Index of a Transparent Object Using Holographic CT Method
LI Jun chang,XIONG Bing heng,ZHONG Li yun,L U.. Xiao xu,ZHANG Yong an.Simulated Study on the Measurement of the Variation of the Deflection Index of a Transparent Object Using Holographic CT Method[J].Journal of Optoelectronics·laser,2002,13(10):1026-1030.
Authors:LI Jun chang  XIONG Bing heng  ZHONG Li yun  L U Xiao xu  ZHANG Yong an
Abstract:The principle of holographic CT measurement is introduced briefly,and the possibility of measuring the 3 dimension(3 D) variation of the deflection index from the intensity distribution of the holographic interferogram is proved theoretically.Based on this method,simulated study on calculating the variation of deflection index of an axis symmetry media is made by computer and the example of application is also presented in this paper.
Keywords:Holography  CT technique  Interferometry
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《光电子.激光》浏览原始摘要信息
点击此处可从《光电子.激光》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号