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测量聚合物薄膜厚度的一种简便方法
引用本文:任诠,王志刚.测量聚合物薄膜厚度的一种简便方法[J].光电子.激光,1998,9(1):35-36.
作者姓名:任诠  王志刚
作者单位:山东大学光学系,山东大学晶体材料研究所,山东大学实验中心
摘    要:本文介绍了用准波导耦合m线技术测量聚合物薄膜厚度的方法。测量结果表明,薄膜样品厚度的误差为3.62×10^-2μm。并对测量精度作了分析和讨论。

关 键 词:聚合物薄膜  准波导  厚度测量  薄膜

Simple Method for Determination of the Thickness of Polymer Film
Ren,Quan Wang,Zhigang Liu,Xuemin Guo,Shiyi Mu,Xiaodong Xu,Dong Shang,Shuxia.Simple Method for Determination of the Thickness of Polymer Film[J].Journal of Optoelectronics·laser,1998,9(1):35-36.
Authors:Ren  Quan Wang  Zhigang Liu  Xuemin Guo  Shiyi Mu  Xiaodong Xu  Dong Shang  Shuxia
Abstract:
Keywords:polymer  thin  film  quasi  waveguide  thickness  measurement
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