采用CCl_2F_2/O_2的高深宽比硅槽的刻蚀 |
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引用本文: | 姚雅红,赵永军,吕苗,皮舜,李江,赵颜军.采用CCl_2F_2/O_2的高深宽比硅槽的刻蚀[J].半导体学报,1998,19(7):542-547. |
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作者姓名: | 姚雅红 赵永军 吕苗 皮舜 李江 赵颜军 |
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作者单位: | [1]清华大学精仪系陀螺教研室 [2]电子工业部第十三研究所 |
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摘 要: | 本文通过实验和对样品上钝化层成分的分析,提出了CCl2F2/O2混合气体对单晶硅的各向异性刻蚀机理:在一定功率下,CCl2F2离解出大量的CFx粒子和Cl粒子,在前者对样品的轰击下后者与轰击出的Si原子反应生成挥发性的SiCl4,产生刻蚀.O2的加入一方面形成钝化层SixOyFz保护侧壁,另一方面通过消耗CFx粒子减少其与Cl粒子的再结合而达到加速目的.探讨了在一定条件下压力和ICP功率对刻蚀速率和各向异性的影响.在大量实验的基础上优化各刻蚀参数,在ICP790设备上刻出了宽3μm,深16μm的窄槽,
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关 键 词: | 硅 HARTs 刻蚀 制取方法 |
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