首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

VLSI成品率重心游移算法的一个几何解释
引用本文:荆明娥,郝跃.VLSI成品率重心游移算法的一个几何解释[J].半导体学报,2004,25(5):594-596.
作者姓名:荆明娥  郝跃
作者单位:西安电子科技大学微电子研究所 西安710071 (荆明娥),西安电子科技大学微电子研究所 西安710071(郝跃)
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:超大规模集成电路 (VL SI)中的参数成品率最优化问题一直是集成电路可制造性设计的重点研究问题 .尽管重心游移算法提出得较早 ,由于其固有的优点目前仍被研究和推广 .文中从一个新的角度 ,即几何学原理上探讨了最优的重心游移算法的原理 ,使最优方向的几何图像更加明确

关 键 词:参数成品率    Monte  Carlo方法    重心游移算法    启发式算法
文章编号:0253-4177(2004)05-0594-03
修稿时间:2003年6月13日

A Geometry Explanation of Center of Gravity Algorithm of VLSI Parametric Yield
Abstract:The maximum problem of parametric yield in VLSI is always an important issue in design for manufacturing (DFM).Although center of gravity algorithm is put forward early,it still be studied and extended due to its inherent advantages.A study of optimal center of gravity from the view of geometry theory is presented,which makes the geometrical image of optimal directional specific.
Keywords:parametric yield  Monte Carlo method  center of gravity algorithm  heuristic algorithm
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《半导体学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号