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B在SiGe中的应变补偿作用
引用本文:成步文,姚飞,薛春来,张建国,李传波,毛容伟,左玉华,罗丽萍,王启明.B在SiGe中的应变补偿作用[J].半导体学报,2005,26(Z1).
作者姓名:成步文  姚飞  薛春来  张建国  李传波  毛容伟  左玉华  罗丽萍  王启明
作者单位:中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室,北京,100083
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划),国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:用超高真空化学气相淀积方法生长出不同硼(B)掺杂浓度的应变SiGe合金材料,研究了B对SiGe合金的应变补偿作用.结果表明,B的掺入使SiGe的应变减小,B对Ge的应变补偿率为7.3,即平均掺入1个B原子可以补偿7.3个Ge原子引起的应变.同时获得B的晶格收缩系数为6.23×10-24cm3/atom.

关 键 词:SiGe  应变补偿  掺杂

Strain Compensation in SiGe by Boron Doping
Cheng Buwen,Yao Fei,Xue Chunlai,Zhang Jianguo,Li Chuanbo,Mao Rongwei,Zuo Yuhua,Luo Liping,Wang Qiming.Strain Compensation in SiGe by Boron Doping[J].Chinese Journal of Semiconductors,2005,26(Z1).
Authors:Cheng Buwen  Yao Fei  Xue Chunlai  Zhang Jianguo  Li Chuanbo  Mao Rongwei  Zuo Yuhua  Luo Liping  Wang Qiming
Abstract:
Keywords:
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