| ASIC可测试性设计技术 |
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| 引用本文： | 曾平英,李兆麟,毛志刚.ASIC可测试性设计技术[J].微电子学,1999,29(3):149-153. |
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| 作者姓名： | 曾平英 李兆麟 毛志刚 |
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| 作者单位： | 哈尔滨工业大学微电子中心 |
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| 摘 要： | 可测性设计技术对于提高军用ＡＳＩＣ的可靠性具有十分重要的意义。结合可测性设计技术的发展，详细介绍了设计高可靠军用ＡＳＩＣ时常用的ＡｄＨｏｃ和结构化设计两种可测性技术的各种方法，优缺点及使用范围。其中，着重论述了扫描技术和内建自测试技术。
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| 关 键 词： | 专用集成电路 可测性设计 内建自测试 |
| 修稿时间： | 1998-07-09 |
The Technology of Design for Testability for ASIC's |
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| ZENG Ping-Ying,LI Zhao-Lin,MAO Zhi-Gang.The Technology of Design for Testability for ASIC''s[J].Microelectronics,1999,29(3):149-153. |
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| Authors: | ZENG Ping-Ying LI Zhao-Lin MAO Zhi-Gang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ASIC Design for testability Built in self test |
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