| 晶体管开关参数自动测试系统 |
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| 引用本文： | 蒋宁.晶体管开关参数自动测试系统[J].四川理工学院学报(自然科学版),1996(1). |
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| 作者姓名： | 蒋宁 |
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| 作者单位： | 四川轻化工学院电子工程系 |
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| 摘 要： | 晶体管开关参数的自动测试一直是人们关注但尚未解决的问题，本文介绍了一种晶体管开关参数自动测试系统ＬＴＳＰ－ＡＴＳ（ＴｒａｎｓｉｔｓｔｏｒＳｗｉｔｃｈＰａｒａｍｅｔｅｒＡｕｔｏ－ＴｅｓｔＳｙｓｔｍ）．文中对ＴＳＰ－ＡＴＳ的原理、方案论证、系统设计及测试结果作了详尽的叙述。
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| 关 键 词： | 开关参数 自动测试 IEEE－488接口 测试电路 |
ON TRANSISTOR SWITCH PARAMETER AUTO-TEST SET |
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| Jiang Ning.ON TRANSISTOR SWITCH PARAMETER AUTO-TEST SET[J].Journal of Sichuan University of Science & Engineering:Natural Science Editton,1996(1). |
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| Authors: | Jiang Ning |
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| Affiliation: | Dept.of Electrol.Eng.Sichuan Institute of Light Ind.& Chem.Tech.Zigong 643033 |
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| Abstract: | Auto-Testing the switch parameters on transistor is studied all the time,which isn't solved.This paper introduces a Transistor Switch Parameter Ant o Test Set(TSP-ATS).The principle and system design of TSP-ATS are related in detail. |
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| Keywords: | switch parameter auto-testing IEEE-488 interface testing networks |
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