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FTW150K高比容钽粉研制钽电容器电介质膜形成工艺的研究
引用本文:李福成,张学清,柳金洲,包富贵.FTW150K高比容钽粉研制钽电容器电介质膜形成工艺的研究[J].宁夏大学学报(自然科学版),2020,41(2).
作者姓名:李福成  张学清  柳金洲  包富贵
作者单位:国家钽铌特种金属材料工程技术研究中心,宁夏 石嘴山 753000;西北稀有金属材料研究院 稀有金属特种材料国家重点实验室,宁夏 石嘴山 753000;中色(宁夏)东方集团有限公司 宁夏东方钽业股份有限公司,宁夏 石嘴山 753000;国家钽铌特种金属材料工程技术研究中心,宁夏 石嘴山 753000;中色(宁夏)东方集团有限公司 宁夏东方钽业股份有限公司,宁夏 石嘴山 753000;国家钽铌特种金属材料工程技术研究中心,宁夏 石嘴山 753000
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:研究FTW150K高比容钽粉研制钽电解电容器电介质膜的形成工艺.用例试方法分析,讨论在容量、损耗参数引出难和形成工艺不稳定条件下,钽电解电容器的形成电压、形成电流及形成温度等对电介质膜的影响.结果表明,形成致密的电介质氧化膜是容量引出的关键,当形成电压为额定电压的4~5倍、形成电流为1.76μA时为该实验的最佳工艺条件.

关 键 词:钽电解电容器  高比容钽粉  工艺参数  形成电压  形成电流

Study on the Formation Process of Tantalum Capacitor Dielectric Film by FTW150K High Specific Volume Tantalum Powder
Abstract:
Keywords:
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