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| 电快速瞬变脉冲群的形成原因,模拟试验和抑制措施 | |
| 引用本文： | 钱振宇.电快速瞬变脉冲群的形成原因,模拟试验和抑制措施[J].上海电器技术,1997(4):21-28. |
| 作者姓名： | 钱振宇 |
| 作者单位： | 中日合资上海三基电子工业有限公司 |
| 摘 要： | 长期对电气和电子设备的抗扰度测试经验表明，所涉及的电的或电磁的成有很多种，而其中用以模拟高重复率的电快速瞬变脉冲群的成已被证明是必须的，在基础性的电磁兼容标准ＩＥＣ１０００－４－４和ＩＥＣ８０１－４，以及我国国家标准ＧＢ／Ｔ１３９２６－４对这项试验都有描述。在这篇章里，我将讨论三个问题，首先是电快速瞬变脉冲群的成因； |
| 关 键 词： | 电磁兼容 EMC EFTB 扰抗度试验 |
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