基于加速退化晶体管贮存寿命的评估 |
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引用本文: | 陈成菊,张小玲,赵利,赵伟,齐浩淳,谢雪松,吕长志.基于加速退化晶体管贮存寿命的评估[J].半导体技术,2013(7):551-555. |
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作者姓名: | 陈成菊 张小玲 赵利 赵伟 齐浩淳 谢雪松 吕长志 |
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作者单位: | 北京工业大学电子信息与控制工程学院;海军701工厂 |
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摘 要: | 为探求快速评价国产晶体管长期贮存寿命的方法,对国产3DK105B型晶体管开展了加速退化试验的分析和研究。通过三组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验,确定了晶体管的失效敏感参数,利用其性能退化数据外推出样品的寿命;给出了常见的三种分布下的平均寿命,并结合Peck温湿度模型外推出自然贮存条件下本批晶体管的贮存寿命。最后分析了试验样品性能参数退化的原因。试验结果可以为评估国产晶体管的贮存可靠性水平提供一定的参考。
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关 键 词: | 加速退化试验 晶体管 恒温恒湿 Peck模型 贮存寿命 |
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