首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

基于加速退化晶体管贮存寿命的评估
引用本文:陈成菊,张小玲,赵利,赵伟,齐浩淳,谢雪松,吕长志.基于加速退化晶体管贮存寿命的评估[J].半导体技术,2013(7):551-555.
作者姓名:陈成菊  张小玲  赵利  赵伟  齐浩淳  谢雪松  吕长志
作者单位:北京工业大学电子信息与控制工程学院;海军701工厂
摘    要:为探求快速评价国产晶体管长期贮存寿命的方法,对国产3DK105B型晶体管开展了加速退化试验的分析和研究。通过三组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验,确定了晶体管的失效敏感参数,利用其性能退化数据外推出样品的寿命;给出了常见的三种分布下的平均寿命,并结合Peck温湿度模型外推出自然贮存条件下本批晶体管的贮存寿命。最后分析了试验样品性能参数退化的原因。试验结果可以为评估国产晶体管的贮存可靠性水平提供一定的参考。

关 键 词:加速退化试验  晶体管  恒温恒湿  Peck模型  贮存寿命
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号