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利用高频PlasmaCVD在蓝宝石衬底上生长立方GaN缓冲层及其光学性
引用本文:修向前,野崎真次,岛袋淳一,池上隆兴,王大志,汤洪高.利用高频PlasmaCVD在蓝宝石衬底上生长立方GaN缓冲层及其光学性[J].半导体学报,2001,22(2):182-186.
作者姓名:修向前  野崎真次  岛袋淳一  池上隆兴  王大志  汤洪高
作者单位:[1]中国科学院大学材料科学与工程系,中国合肥230026 [2]日本电器通信大学电子情报学科,日本东京都调布市182-858
摘    要:研究了采用高频 Plasma CVD技术在较低温度下 (30 0— 40 0℃ )生长以 Ga N为基的 - 族氮化物的可行性 ,在蓝宝石衬底上生长了 Ga N缓冲层 .热处理后的光致发光谱和 X光衍射表明 ,生长的 Ga N缓冲层为立方相 ,带边峰位于 3.15 e V.在作者实验的范围内 ,最优化的 TMGa流量为 0 .0 8sccm (TMAm=10 sccm时 ) ,XPS分析结果表明此时的 Ga/ N比为 1.0 3.这是第一次在高 / 比下得到立方 Ga N.相同条件下石英玻璃衬底上得到的立方 Ga N薄膜 ,黄光峰很弱 ,晶体质量较好

关 键 词:立方GaN    高频等离子体化学气相沉积    X射线光电子谱
文章编号:0253-4177(2001)02-0182-05
修稿时间:1999年12月11

Optical Properties and Growth of Cubic GaN Buffer Layers on Sapphire by Radio Frequency Plasma CVD
XIU Xiang-qian.Optical Properties and Growth of Cubic GaN Buffer Layers on Sapphire by Radio Frequency Plasma CVD[J].Chinese Journal of Semiconductors,2001,22(2):182-186.
Authors:XIU Xiang-qian
Abstract:
Keywords:cubic GaN  radio frequency plasma CVD  X  ray photoelectron spectra
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