| ICP-AES法测定氧化铟-氧化锡(ITO)超细复合粉末中的痕量杂质 |
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| 引用本文： | 孙洪涛,王晓艳,邓培.ICP-AES法测定氧化铟-氧化锡(ITO)超细复合粉末中的痕量杂质[J].宁夏工程技术,2003,2(3):232-234. |
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| 作者姓名： | 孙洪涛 王晓艳 邓培 |
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| 作者单位： | 西北稀有金属材料研究院,宁夏,石嘴山,753000 |
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| 摘 要： | 建立了超细In203-Sn02(ITO)复合粉末中Al，Ca，Cd，Co，Cr，Cu，Fe，Mg，Mn，Mo，Ni，Ti，V，Zn，Zr等15种杂质元素的ICP-AES测定方法．研究了基体对被测元素的干扰，选择了仪器最佳工作参数．方法的回收率为92％～110％，相对标准偏差为0．26％～3．66％．
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| 关 键 词： | ICP-AES法 测定 氧化铟-氧化锡 超细粉末 复合粉末 痕量杂质 等离子体-原子发射光谱法 |
| 文章编号： | 1671-7244(2003)03-0232-03 |
| 修稿时间： | 2003年5月9日 |
Determination of trace impurities in In2O3-SnO2(ITO) ultrafine composite powder by ICP-AES |
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| SUN Hong-tao,WANG Xiao-yan,DEN Pei.Determination of trace impurities in In2O3-SnO2(ITO) ultrafine composite powder by ICP-AES[J].Ningxia Engineering Technology,2003,2(3):232-234. |
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| Authors: | SUN Hong-tao WANG Xiao-yan DEN Pei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ICP-AES In2O3-SnO2 composite powder trace impurities |
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