| 微纳米含能材料静电积累特性与危险性分析 |
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| 引用本文： | 周文韬,何中其,陈网桦.微纳米含能材料静电积累特性与危险性分析[J].含能材料,2015,23(7):688-692. |
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| 作者姓名： | 周文韬 何中其 陈网桦 |
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| 作者单位： | 南京理工大学化工学院, 江苏 南京 210094,南京理工大学化工学院, 江苏 南京 210094,南京理工大学化工学院, 江苏 南京 210094 |
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| 基金项目： | 总装备部预先研究项目资助(00401010302) |
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| 摘 要： | 为了分析微纳米含能材料的静电危险性,采用标准筛替代斜槽进行了摩擦起电静电积累实验。利用法拉第筒测试了黑索今(RDX)、奥克托今(HMX)经不同孔径标准筛过筛后的的静电积累,分析了其静电危险性。研究了在50目标准筛孔径下炸药粉体质量、粒度对静电积累量的影响,比较了不同标准筛孔径下纳米RDX的静电积累量。结果表明试样量越大,积累的静电电荷量越大;筛孔径与纳米RDX和HMX的静电积累量近似满足线性关系,孔径越小,静电积累量越大;纳米RDX(粒径80 nm)和纳米HMX经50目标准筛(孔径为0.355 mm)过筛后的平均质量电荷密度分别为-21.1μC·kg-1和-8.1μC·kg-1,纳米级RDX、HMX质量电荷密度约为工业级的3.6倍,存在非常大的静电危险性;RDX在工业级、纳米级状态下的质量电荷密度均约为同状态下HMX的2.6倍。
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| 关 键 词： | RDX HMX 微纳米含能材料 静电积累量 |
| 收稿时间： | 5/4/2014 12:00:00 AM |
| 修稿时间： | 2014/7/19 0:00:00 |
Electrostatic Accumulation Characteristic and Hazard Analysis of Micro-nano Energetic Materials |
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| ZHOU Wen-tao,HE Zhong-qi and CHENG Wang-hua.Electrostatic Accumulation Characteristic and Hazard Analysis of Micro-nano Energetic Materials[J].Chinese Journal of Energetic Materials,2015,23(7):688-692. |
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| Authors: | ZHOU Wen-tao HE Zhong-qi and CHENG Wang-hua |
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| Affiliation: | School of Chemistry Engineering, Nanjing University of Science and Technology, Nanjing 210094, China,School of Chemistry Engineering, Nanjing University of Science and Technology, Nanjing 210094, China and School of Chemistry Engineering, Nanjing University of Science and Technology, Nanjing 210094, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | RDX HMX micro-nano energetic materials electrostatic accumulation |
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