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| 镀铋膜修饰玻碳电极方波伏安法测定豆芽中痕量铬 | |
| 引用本文： | 刘成伦,杨玉娥,周庆华,陈林,丁德健.镀铋膜修饰玻碳电极方波伏安法测定豆芽中痕量铬[J].食品研究与开发,2010,31(5). |
| 作者姓名： | 刘成伦 杨玉娥 周庆华 陈林 丁德健 |
| 作者单位： | 1. 重庆大学化学化工学院,重庆,400030;西南资源开发及环境灾害控制工程教育部重点实验室,重庆,400030 2. 重庆大学化学化工学院,重庆,400030 3. 安徽省安庆市石化第一中学,安徽,安庆,246001 |
| 基金项目： | 重庆市科委自然科学基金资助项目，重庆大学"211工程"三期创新人才培养计划项目 |
| 摘 要： | 采用铋膜电极方波伏安法测定豆芽中痕量铬.通过正交试验优化Cr(VI)的测定条件,在最优参数下,Cr(VI)的浓度在0.1 μg/L～200 μg/L范围内与峰电流呈良好的线性关系;Cr(Ⅵ)的检测限为0.001 μg/L.在最佳检测条件下,测定铬的含量为2.824 mg/kg.试验相对标准偏差<10%,回收率在90%～110%之间.结果令人满意,具有很高的实际应用价值. |
| 关 键 词： | Cr(Ⅵ) 铋膜电极 方波伏安法 豆芽 痕量铬 |
Square Wave Voltammetry Determination of Trace Chromium in Sprouts at the Bismuth Film Electrode |
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| LIU Cheng-lun,YANG Yu-e,ZHOU Qing-hua,CHEN Lin,DING De-jian.Square Wave Voltammetry Determination of Trace Chromium in Sprouts at the Bismuth Film Electrode[J].Food Research and Developent,2010,31(5). | |
| Authors: | LIU Cheng-lun YANG Yu-e ZHOU Qing-hua CHEN Lin DING De-jian |
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| Keywords: | |
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