| 基于ARM嵌入式开发的调试方案 |
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| 引用本文： | 黄克彬,叶梧,冯穗力.基于ARM嵌入式开发的调试方案[J].计算机工程,2004,30(24):174-176. |
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| 作者姓名： | 黄克彬 叶梧 冯穗力 |
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| 作者单位： | 华南理工大学电子通信工程系,广州,510640 |
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| 基金项目： | 广东省工业攻关资助项目(2002A1030405) |
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| 摘 要： | 分析和比较了基于Angel的调试系统和基于Multi-ICE的调试系统，给出了分别基于这两种调试系统的ARM嵌入式开发的调试方案，有效地解决了高端嵌入式处理器开发中的调试难点。
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| 关 键 词： | 调试 嵌入式系统 ARM Angel Multi-ICE |
| 文章编号： | 1000-3428(2004)24-0174-03 |
Debug Solution for ARM Embedded Development |
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| HUANG Kebin,YE Wu,FENG Suili.Debug Solution for ARM Embedded Development[J].Computer Engineering,2004,30(24):174-176. |
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| Authors: | HUANG Kebin YE Wu FENG Suili |
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| Abstract: | This paper analyzes and compiles Angel-based debug system and Multi-ICE-based debug system, and advancestwo type of ARM embedded development debug solutions respectively based on these debug systems. These solutions effectively solve the debug difficulties of embedded processor development. |
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| Keywords: | Debug Embedded system ARM Angel Multi-ICE |
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