反符合屏蔽低本底Ge(Li)γ谱仪 |
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引用本文: | 宋绍仪,李瑞香,刘新华,曹音捷.反符合屏蔽低本底Ge(Li)γ谱仪[J].辐射防护,1988(1). |
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作者姓名: | 宋绍仪 李瑞香 刘新华 曹音捷 |
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作者单位: | 中国原子能科学研究院
(宋绍仪,李瑞香,刘新华),中国原子能科学研究院(曹音捷) |
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摘 要: | 本文报道了一台由Ge(Li)主探测器和环形NaI(Tl)反符合探测器组成的高灵敏度γ谱仪的结构、性能和应用。谱仪用交替的物质屏蔽和井形NaI(Tl)反符合屏蔽降低本底。Ge(Li)探测器的体积为78cm~3,对~(60)Co 的1332keVγ射线的分辨率为2.42keV,不加任何屏蔽时峰康比为36.4,相对效率为16%,对~(187)Cs 点源γ射线全能峰的探测效率为1.6%。本谱仪在不加和加反符合屏蔽时,对~(137)Cs 点源的峰康比分别为79和333;康普顿区积分抑制因子为3.67,康普顿端抑制因子为5.2;在50—2700keV 能量范围内,本底抑制因子为3.2。在物质屏蔽和反符合屏蔽条件下,在上面的能量范围内,谱仪本底为24cpm。对~(137)Cs 点源,当测量时间为1000min、置信水平为95%时,谱仪的最小探测限(判断限)为2.2×10~(-2)Bq(0.59pCi)。本谱仪主要用于分析测量环境样品和其他低水平放射性样品中发射γ射线的核素的含量。
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关 键 词: | 低水平测量 γ谱仪 Ge(Li) |
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