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| 电子元器件的有关可靠性试验 | |
| 引用本文： | 陈昭宪.电子元器件的有关可靠性试验[J].电子产品可靠性与环境试验,1995(6):63-66. |
| 作者姓名： | 陈昭宪 |
| 作者单位： | 电子部五所 广州，510610 |
| 摘 要： | 可靠性试验是为了评价和分析产品的可靠性特征而进行的试验。试验包括有环境、筛选、交收验收、测定、鉴定验证、认证以及寿命与加速寿命试验等等。 可靠性增长试验是为暴露产品的薄弱环节,并证明改进措施能防止薄弱环节再现而进行的系列试验。从广义上来讲,凡属以改进产品的可靠性为目的而进行的试验都可以作为可靠性增长试验的一种手段,但要注意的是可靠性增长试验是一个有计划地激发故障、分析故障和改进设计并证明改进有效的一个过程。 可靠性增长试验同一般可靠性试验的区 |
| 关 键 词： | 电子元器件 可靠性 试验 |
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