| 单粒子翻转二维成像技术 |
| |
| 引用本文： | 史淑廷,郭 刚,王 鼎,刘建成,惠 宁,沈东军,高丽娟,苏秀娣,陆 虹.单粒子翻转二维成像技术[J].太赫兹科学与电子信息学报,2012,10(5):608-612. |
| |
| 作者姓名： | 史淑廷 郭 刚 王 鼎 刘建成 惠 宁 沈东军 高丽娟 苏秀娣 陆 虹 |
| |
| 作者单位： | 中国原子能科学研究院核物理所;中国电子科技集团公司第47研究所 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(11105230) |
| |
| 摘 要： | 为了给星用半导体器件不同区域的单粒子翻转(SEU)机理研究提供一种高效、可靠手段,基于北京HI-13串列加速器,从重离子微束辐照技术和存储器单粒子效应检测技术这2方面,对微电子器件SEU二维成像测试技术进行了研究,建立了基于虚拟技术的测试系统。利用该成像技术,对国产2 kbit静态随机存储器(SRAM)的SEU敏感区域进行了实验研究,结果与理论结果及以往手动测试实验结果一致。
|
| 关 键 词： | 单粒子翻转成像 重离子微束 随机静态存储器 |
| 收稿时间： | 2011/12/11 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2012/2/29 0:00:00 |
Technique of Single Event Upset mapping |
| |
| SHI Shu-ting,GUO Gang,WANG Ding,LIU Jian-cheng,HUI Ning,SHEN Dong-jun,GAO Li-juan,SU Xiu-di and LU Hong.Technique of Single Event Upset mapping[J].Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology,2012,10(5):608-612. |
| |
| Authors: | SHI Shu-ting GUO Gang WANG Ding LIU Jian-cheng HUI Ning SHEN Dong-jun GAO Li-juan SU Xiu-di and LU Hong |
| |
| Affiliation: | 1.Department of Nuclear Physics,China Institute of Atomic Energy,Beijing 102413,China;2.The 47th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation,Shenyang Liaoning 110000,China) |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《太赫兹科学与电子信息学报》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《太赫兹科学与电子信息学报》下载全文 |
|
