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基于NIOSⅡ软核处理器的嵌入式测试系统软硬件设计研究
引用本文:张荣,黄海莹,李春枝,卫剑峰,蒋宇.基于NIOSⅡ软核处理器的嵌入式测试系统软硬件设计研究[J].计算机测量与控制,2012,20(2):303-306.
作者姓名:张荣  黄海莹  李春枝  卫剑峰  蒋宇
作者单位:中国工程物理研究院总体工程研究所,四川绵阳,621900
摘    要:介绍了利用NIOSⅡ软核处理器设计嵌入式测试系统的两类系统架构,详细讲述了基于NIOSⅡ软核处理器的嵌入式测试系统软硬件设计方法;最后结合EP2C8Q-208C8型FPGA芯片,利用Verilog语言描述A/D芯片的工作时序逻辑,利用NIOSⅡ软核处理器设计串口处理单元,将A/D采集的数据通过串口发送到计算机显示。实践表明,利用NIOS II软核处理器设计嵌入式测试系统,具有开发周期短,系统集成度高,功能灵活多样等特点,与传统利用单片机设计嵌入式测试系统相比,具有时钟频率高、运行速度快、调试方便等特点,是一种值得推广的嵌入式测试系统设计方法。

关 键 词:NIOSⅡ软核处理器  嵌入式测试系统  单片机  FPGA  A/D
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