| 扫描探针显微术及其在纳米科技中的应用 |
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| 引用本文： | 王锐,李道火,黄永攀,罗丽明,浦坦.扫描探针显微术及其在纳米科技中的应用[J].激光与光电子学进展,2003,40(9):49-52. |
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| 作者姓名： | 王锐 李道火 黄永攀 罗丽明 浦坦 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院安徽光学精密机械研究所,合肥,230031;山东道钬纳米技术研究院,济南,250100
2. 中国科学院安徽光学精密机械研究所,合肥,230031 |
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| 摘 要： | 综述了近二十年来以扫描隧道显微镜为代表的、基于探针的成像显微装置基本原理及应用领域。
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| 关 键 词： | 扫描隧道显微镜 探针 纳米技术 工作原理 |
| 收稿时间： | 2003/2/21 |
Application of Scanning Probe Microscopy in Nano Technology |
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| Wang Rui Li Daohuo Huang Yongpan Luo Liming Pu Tan.Application of Scanning Probe Microscopy in Nano Technology[J].Laser & Optoelectronics Progress,2003,40(9):49-52. |
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| Authors: | Wang Rui Li Daohuo Huang Yongpan Luo Liming Pu Tan |
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| Abstract: | Reviewed are the basic principles and application fields of probe-based imaging microscope, represented by scanning tunneling microscopes for the recent 20 years. |
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| Keywords: | nano science and technology scanning tunneling microscope scanning probe microscope scanning near-field optical microscope |
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