干式空心并联电抗器匝间短路状态下损耗分析

在干式空心电抗器匝间短路状态下,对短路线圈中环流引起的损耗进行了分析。通过对电抗器电路等值模型的构建及仿真分析可知,匝间短路状态下短路线圈的环流大大增加了电抗器的损耗,可达16倍以上,并随着耦合程度的增加而增大。可通过损耗检测的方法实现对干式空心电抗器匝间短路状态进行检测。